ニレコ　元素分析、近赤外成分分析装置を 取りそろえた分析デモルームを開設

株式会社ニレコ(本社：東京都八王子市、代表取締役社長　中杉 真一)は、2025年7月、LIBS、XRF元素分析装置、固体・液体用近赤外分析装置を備えたデモルームを新設しました。

本デモルームは、2024年10月に取り扱いを開始したBowman社製品に関し「実機でのサンプル評価をしてみたい」というお客さまの声を多数頂戴したことから、この要望に応えるべく設置する運びとなりました。また、それに併せて当社の取り扱うSciAps社製ハンドヘルド型計測装置、当社製近赤外分析装置も取り揃えて設置したものです。

分析デモルームでは、半導体パッケージ基板、プリント基板、電子部品、めっきなどの各種薄膜品質検査や工業、資源、材料、食品などの各分野における成分分析に適した測定機器を備えており、お客さまの測定装置導入検討時の実機評価や品質管理部門における品質テスト、各作業現場からの分析要望の相談の場としてご利用いただけます。分析テストの実施に当たっては、オンラインでのリモートデモにも対応し、お客様の分析業務の効率化をサポートするとともに、分析装置導入時に求められる実際の使用感把握ニーズに応え、分析装置導入時の課題解決につなげてまいります。

ニレコでは、近年の多様化する分析ニーズに対応し、お客様の求める多面的な分析ソリューションを効率的に提供するため、最新の分析装置を取り揃えたデモルームを新設しました。

測定用装置として、Bowman社製 XRF薄膜測定装置、SciAps社製蛍光X線分析計(XRF)、レーザー誘起ブレークダウン分光分析計(LIBS)、当社製固体用近赤外分析装置A8850、液体用近赤外分析装置A8860などを設置し、幅広く薄膜測定、元素分析、成分分析などに対応しています。

測定デモ実施時には、専用に設置されたデモルームにお客様に実際に立ち合いを頂くことで、測定状況と機械操作を実際に確認しながら分析結果を確認可能となり、装置の導入に向けた検討の時間を大幅に短縮することが可能です。遠隔地のお客様からのご要望に対しても、試料を当社に送付頂くことにより、オンラインでリアルタイムに測定状況を確認できるリモートデモによる対応が可能です。今回のデモルーム開設により、幅広いユーザーの薄膜測定、元素分析、成分分析や装置の使用感把握などのニーズに効率的に対応し、分析装置導入時の課題解決につなげてまいります。

ニレコでは、本デモルーム設置の他にも、鉄鋼・非鉄金属産業や金属スクラップ業界などの各企業に向けた元素分析装置の一層の普及を図るべく、2025年12月末までの期間限定で、デモルームにも設置しているSciAps社の携帯型XRF(蛍光X 線元素分析法、X-ray Fluorescence Analysis)分析装置「XRF　X-200 Alloy Analyzer」をキャンペーン価格(1台324.5万円(税込))で提供しています(50台限定)※。

●分析事例

＜工業製品＞

・基板メッキ、層厚み、ガラス基板

＜材料＞

・鉄・ステンレス・アルミ・銅・ニッケル・チタン・コバルト合金中の元素

・貴金属、レアメタルの判別

＜リサイクル＞

・鉄・アルミ・銅のグレード判別、ブラックマス中のリチウム他元素定量

＜資源系＞

・土壌(窒素、CEC、腐食、水分)

・鉱石(各種元素)

＜工業系＞

・ガソリン・軽油・灯油(オクタン価、蒸溜点、密度、セタン指数等)

・樹脂・ペレット(添加剤、粘度、極限粘度IV、水酸基価)

＜食品系＞

・加工食品(蛋白、脂肪、繊維、水分、塩分、カロリ、アルコール、糖類等)

・食用油(沃素価、酸価、リン脂質、ステロール、過酸化物価、クロロフィル)

●元素分析デモルーム設置機器(一部)

【Bowman社製　XRF膜厚測定装置 Kシリーズ】

Bowman社製XRF膜厚測定装置

X線を用いて測定対象を AI (アルミニウム、元素番号 13)から U (ウラン、元素番号 92)まで非破壊で元素測定することが可能で薄膜測定、元素分析、めっき分析用途として電子部品業界やPCB業界、宝飾品業界などで幅広く活用される。測定対象に照射するX線をμmオーダーまで収束することで、半導体ウエハの膜厚測定やBGA(Ball Grid Array)、微小はんだバンプなど各種サンプルの測定に適した製品。

【SciAps社製 LIBS分析装置　Z-900シリーズ】

SciAps社製 レーザー誘起ブレークダウン分光分析計

短パルスレーザーを試料表面に照射し、生成したプラズマ光を分光測定し、元素含有量を分析。XRFの適用外の軽元素も含め重元素の測定も可能。特許技術のアルゴンガス噴射法により、プラズマ生成をアルゴンガス雰囲気中で行い、プラズマ発光強度を圧倒的に高め鉄鋼中の微量炭素Cの測定も可能で、炭素含量でSUS316とSUS316Lの違いも判別可能。

【SciAps社製 蛍光X線分析計　X-200シリーズ】

SciAps社製 蛍光X線分析計

普及型のハンドヘルド型X線蛍光分析計(XRF)。各元素特有の蛍光X線検出により、試料を構成する元素を同定すると共に成分比率を分析。

鉱業分野での採掘・試掘における鉱物分析、工業分野での資材等の金属や合金の同定・選別、RoHSやCPSIAなどの安全性適合テスト、SDGs分野でのスクラップ工場における廃材金属の同定・選別、環境分野での土壌汚染調査、美術品や工芸品の判定など幅広い分野で利用可能。

※キャンペーン対象機種

【液体用近赤外分析装置A8860】

液体用近赤外分析装置A8860

食用油・飲料・石油などの液体試料を対象に、400-2500nmの波長で最適な透過測定を実現する近赤外分光アナライザ。複数試料を一括して測定可能な機構と温度制御機能により分析工程の省力化を図ると共に、ハイエンド型分光器の搭載により極めて高い測定精度を実現。

粉体・固体用モデル用として、未粉砕の穀物(お米、小麦、大豆など)や長さを伴う検体(乾麺など)の測定や粉末検体の計測可能な近赤外分析装置A8850もデモ機として設置。

■本件に関するお問合せは

株式会社ニレコ　計測器グループ 分析機器営業課

TEL　 ： 042-660-7344

e-mail： info-sciaps@nireco.co.jp

【ニレコについて】

商号　　　： 株式会社ニレコ

設立　　　： 1950年11月設立

連結売上高： 10,756百万円(2025年3月期)

資本金　　： 3,094百万円

市場　　　： 東証スタンダード上場(証券コード：6863)

事業内容　： 制御および計測装置の開発、製造、販売ならびに保守サービス

URL　　　 ： https://www.nireco.jp